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最高300MHz的高頻測量
               IM7580的測量頻率為1MHz~300MHz。在以單一頻率測量的LCR表的模式下，判斷出貨檢查時的合格與否，改變頻率的同時在測量的分析模式下可用于產品開發的特性評估等多種領域中。

最快0.5ms的高速測量或高穩定性的測量，有助于提高生產效率
               可進行最快0.5ms（0.0005秒）的高速測量。這樣，對于希望更快速的檢查大批量電子元器件的電子元器件廠家來說能夠大幅提高生產效率。
               而且，測量的反復精度提高到以往產品的1/10，讓測量更加穩定，改善了生產產量，提高了生產效率。

主機體積更小，有助于降低生產成本
               在電子元器件廠家的生產線中，將各種儀器整合在機架上制作成檢查系統，然后進行自動檢查。因此，主機體積小的話，則檢查系統也會小巧，通過安裝多臺儀器可以索多檢查時間，從而降低生產成本。
               IM7580的體積是半個機架的大?。ㄩL215mm，高200mm，厚268mm），一個機架可以安裝2臺。

各種各樣的判斷功能判斷合格與否
               在單一的頻率測量的LCR表的模式下，有判斷電子元器件合格與否的比較器功能，選擇電子元器件的BIN功能。比較器功能中設置上下限值，以此為判斷標準來判斷是否合格。使用比較器功能是按照一個判斷標準判斷是否合格，而BIN功能是最多設置10個判斷標準，然后進行排名。
               使用多個頻率測量的分析模式的話，則有可從電子零部件的頻率特性中判斷合格與否的區域、峰值比較功能。區域判斷是確認測量值是否進入任意設置的判斷區域中的功能。峰值判斷是設置上限值、下限值、左限值、有限制后，判斷共振點的功能。