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IM7583最高600MHz、IM7585最高1.3GHz的高頻測量

IM7583的測量頻率是1MHz~600MHz，而IM7585是1MHz~1.3GHz。這大大的高于去年發(fā)售的IM7580的測量頻率（1MHz~300MHz）。
               單一頻率測量的LCR測試儀的模式的話，可用于判斷出貨檢查的合格與否，頻率變化同時進行測量的阻抗分析儀的模式的話 ，產(chǎn)品開發(fā)的特性評估和其他領(lǐng)域中。

最快0.5ms的高速測量和高穩(wěn)定性的測量，有助于提高生產(chǎn)效率

最快0.5ms（0.0005秒）的高速測量。這樣，對于需要快速檢查大量電子元件的電子元件廠商來說可以大幅提高生產(chǎn)效率。
               而且，IM7585的反復測量精度是0.07%（1GHz時的代表值），因此實現(xiàn)了穩(wěn)定測量，提高生產(chǎn)的成品率，從而提高生產(chǎn)效率。

主機尺寸小巧化，有助于降低生產(chǎn)成本

在電子元件廠商的生產(chǎn)線中，各種設(shè)備安裝在機架中組成檢查系統(tǒng)，并進行自動檢查。因此，和去年發(fā)售的IM7580相同通過將將主機大小小型化，縮小檢查系統(tǒng)的體積，并通過多臺組合能夠縮短檢查時間，并降低生產(chǎn)成本。

各種各樣的判斷功能，判斷合格與否

單一的頻率測量的LCR測試儀的模式的話，具備判斷電子元件的合格與否的比較器功能以及將電子元件排序的BIN功能。比較其功能克設(shè)置上下限值，并以此為判斷標準來判斷是否合格。相對于比較器功能的按照判斷標準判斷是否合格，BIN功能則能設(shè)置最多10種判斷標準，并進行排名。
               在多種頻率下測量的分析儀的模式的話，包括從電子元件的頻率特性中可判斷合格與否的區(qū)間判斷、峰值判斷。區(qū)間判斷是為了確認測量值是否進入任意設(shè)置的判斷區(qū)域內(nèi)的功能。峰值判斷是判斷共振點的功能。
               另外，還全新搭載了任意設(shè)置多種頻率，并按照這個設(shè)置值判斷合格與否的目標判斷功能。